詳細摘要： HBM人體模型測試儀適合半導體器件、模塊和分立器件測試,適用于靜電放電敏感元件（ESD）特別是人體模型（HBM）
產品型號：FPGRU-TITAN所在地：更新時間：2023-05-21 在線留言PLC 工控機 嵌入式系統 人機界面 工業以太網 現場總線 變頻器 機器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業軟件 ICS信息安全 應用方案 無線通訊
孚光精儀公司
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詳細摘要： HBM人體模型測試儀適合半導體器件、模塊和分立器件測試,適用于靜電放電敏感元件（ESD）特別是人體模型（HBM）
產品型號：FPGRU-TITAN所在地：更新時間：2023-05-21 在線留言
詳細摘要： 這種掃描電鏡探測器是的BSE探測器或背散射電子探測器，為掃描電子顯微鏡提供的信噪比和超高的分辨率，是SEM探測器中的產品
產品型號：FPCRY-sem-detector所在地：更新時間：2023-02-17 在線留言
詳細摘要： 這款寬帶光學薄膜測厚儀是一款低價臺式光學薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光等，這款寬帶光學薄膜厚度測量...
產品型號：FRANG-SR500所在地：更新時間：2023-02-14 在線留言
詳細摘要： 這款光學薄膜測厚儀采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數，非常適合日常已知膜系膜堆測量
產品型號：FRANG-SR100所在地：更新時間：2023-02-14 在線留言
詳細摘要： 這款薄膜溶解測厚儀用于實時監測薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學常量（n,k)變化，是的薄膜溶解測量儀和薄膜溶解測試儀
產品型號：FPTHE-FR-liquid所在地：更新時間：2023-02-14 在線留言
詳細摘要： 這款便攜式薄膜測厚儀是款便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等
產品型號：FPTHE-FR-pOrtable所在地：更新時間：2023-02-14 在線留言
詳細摘要： 這款聚合物薄膜測厚儀用于測量polymerfilms(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和photoresistfilms（光致抗蝕劑薄膜,光刻膠膜,光刻薄膜,...
產品型號：FPTHE-FR-Thermal所在地：更新時間：2023-02-14 在線留言
詳細摘要： 環境壓力光電子發射光譜儀系統是為大氣環境下光電子能譜測量設計的光電子能譜儀器,PhotoemissionSpectroscopy，通過空氣中的光電發射測量材料的...
產品型號：FPKEL-APS所在地：更新時間：2023-01-04 在線留言
詳細摘要： 晶圓分揀機器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設計的自動晶圓分揀機系統，可分選高達12尺寸晶圓
產品型號：FPEH-Robot Sorter所在地：更新時間：2022-11-19 在線留言
詳細摘要： 高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用
產品型號：FPMRC-SEM-200所在地：更新時間：2022-10-28 在線留言
詳細摘要： 這款臺式掃描電子顯微鏡ScanningElectronMicroscope是為客戶提供的歐洲性價比掃描電鏡，改變了動輒百萬人民幣的電鏡價格，它為用戶提供低價亞微...
產品型號：FPMICR-SEM所在地：更新時間：2022-10-28 在線留言
詳細摘要： 這款掃描近場光學顯微鏡SNOM融合了的掃描探針技術和光學顯微鏡技術，它把微型光學探針非常接近材料樣品表面，實現近場成像，獲得光學信息后提供的圖像分辨率可達100...
產品型號：FPAPE-SNOM所在地：更新時間：2022-10-15 在線留言
詳細摘要： 近場掃描光學顯微鏡NSOM采用SNOM技術幫助用戶獲得的光學空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計數模式的熒光和光學圖像
產品型號：FPDEL-nsom所在地：更新時間：2022-10-15 在線留言
詳細摘要： 納米壓痕儀通過掃描材料表面實現對材料力學性能的納米尺度的高精度測量，精確給出硬度，彈性模量，楊氏模量等材料力學性能，并實現靜態壓痕測量和動態壓痕測量以及scle...
產品型號：FPNAN-3Dcom所在地：更新時間：2022-10-12 在線留言
詳細摘要： 開爾文探針系統KelvinProbe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高
產品型號：FPPRI-Kelvin Probe所在地：更新時間：2022-10-12 在線留言
詳細摘要： 大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離
產品型號：FPANF-AFT-KP150所在地：更新時間：2022-10-12 在線留言
詳細摘要： 這款大范圍掃描開爾文探針系統幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖
產品型號：FPKPT-SKP5050所在地：更新時間：2022-10-12 在線留言
詳細摘要： 我們的單點開爾文探針系統采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量
產品型號：FPKPT-kp020所在地：更新時間：2022-10-12 在線留言
詳細摘要： 超高真空開爾文探針系統幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量
產品型號：FPKPT-UHVKP020所在地：更新時間：2022-10-12 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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